KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.
Uppskattat värde
—
Sista anbudsdag
2026-10-11
CPV
38500000
Källa
ted
Bevaka upphandlingar som denna
Med ett konto får du en daglig digest med nya upphandlingar och
avtalsutgångar inom dina branscher, och ser vilka avtal hos
Kungliga Tekniska högskolan som löper ut härnäst.